靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置期間核查方法

2009-05-29 趙光平 蘭州物理研究所,真空低溫技術(shù)與物理國家級(jí)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

         靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置是國防真空計(jì)量最高標(biāo)準(zhǔn),采用傳遞比較法對(duì)其進(jìn)行期間核查。

         傳遞比較法是用高一級(jí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和被核查的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)(檢定)同一臺(tái)穩(wěn)定性好的傳遞標(biāo)準(zhǔn)或測(cè)量器具,其值分別是y0 和y,應(yīng)滿足式(1)

傳遞比較法

         式中y 為被核查標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)結(jié)果;y0 為測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)結(jié)果;U 為被核查標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展不確定度;uc 為被核查標(biāo)準(zhǔn)的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度。

         高一級(jí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)選用高精密活塞壓力計(jì)標(biāo)準(zhǔn)裝置,其測(cè)量范圍為(1×102~1×104)Pa,擴(kuò)展不確定度U 為0.20%~0.01%(k=2);被核查標(biāo)準(zhǔn)靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置測(cè)量范圍為(1×10-4~1×105)Pa,擴(kuò)展不確定度U為0.8%(k=2)。

         電容薄膜真空計(jì)具有優(yōu)良的穩(wěn)定性和重復(fù)性,常被用作真空標(biāo)準(zhǔn)之間的傳遞標(biāo)準(zhǔn)。這里傳遞標(biāo)準(zhǔn)選用美國MKS 公司生產(chǎn)的FS1.33 kPa 電容薄膜真空計(jì),其測(cè)量范圍為(1~1×103)Pa。在(1×102~1×103)Pa 范圍,分別用高精密活塞壓力計(jì)標(biāo)準(zhǔn)裝置和靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置對(duì)FS1.33 kPa電容薄膜真空計(jì)校準(zhǔn),校準(zhǔn)數(shù)據(jù)見表1 和表2。

表1 高精密活塞壓力計(jì)標(biāo)準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

高精密活塞壓力計(jì)標(biāo)準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)數(shù)據(jù) 

表2 靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

 靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

         注:修正因子=標(biāo)準(zhǔn)值÷被校值。

         表1 中,用高精密活塞壓力計(jì)標(biāo)準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)電容薄膜真空計(jì)的平均修正因子為1.002 1;表2 中,用靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)的修正因子為0.998 2。根據(jù)式(1)計(jì)算二者的偏差為0.39%,小于靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準(zhǔn)裝置的擴(kuò)展不確定度0.80%,該標(biāo)準(zhǔn)裝置技術(shù)狀態(tài)正常。

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