托卡馬克研究作為目前世界上最成功的受控核聚變裝置已經(jīng)取得了巨大的進(jìn)展。EAST是我國自主建設(shè)具有D形截面的大型全超導(dǎo)托卡馬克實(shí)驗(yàn)裝置，它的高參數(shù)穩(wěn)態(tài)等離子體運(yùn)行及相關(guān)工程技術(shù)和物理研究，對于正在建設(shè)的國際熱核聚變實(shí)驗(yàn)堆的穩(wěn)態(tài)運(yùn)行及物理研究有著十分重大的參考意義。

　　低雜波電流驅(qū)動(dòng)（LHCD）是目前托卡馬克裝置中電流驅(qū)動(dòng)效率最高的非感應(yīng)電流驅(qū)動(dòng)方法。LHCD通過朗道阻尼驅(qū)動(dòng)快電子來維持等離子體電流，因此可以利用快電子和主等離子體相互作用時(shí)發(fā)出的特定波段輻射（主要是韌致輻射）來研究LHCD的驅(qū)動(dòng)效果。LHCD驅(qū)動(dòng)的快電子能量從外部到芯部逐漸衰減，分布在數(shù)十到數(shù)百keV之間，相應(yīng)的韌致輻射在硬X射線(HXR)能段。因此通過測量特征硬X 射線快電子行為可以研究低雜波的電流驅(qū)動(dòng)行為。近年來，工作溫度在室溫區(qū)域的新型半導(dǎo)體CdTe探頭成為最佳的替代品，并在HT-7上獲得成功應(yīng)用，解決了上述的諸多限制條件，等離子體小截面上徑向二維HXR診斷已經(jīng)取得了相當(dāng)滿意的結(jié)果。但是由于HT-7缺少切向窗口，因此在剛剛開展物理實(shí)驗(yàn)的全超導(dǎo)托卡馬克EAST上研制了這套基于CdTe探頭的HXR水平切向陣列（Hard X-rayHorizontal Tangent array spectroscopic Analyzer）, 簡稱HXHTA，主要目的是研究水平方向快電子行為、LHCD的沉積及LHCD的驅(qū)動(dòng)效率等物理特性，并為進(jìn)一步建立垂直HXR 系統(tǒng)提供經(jīng)驗(yàn)。

　　HXHTA的簡要工作流程是：主等離子體特定水平位置的X射線特征能量在半導(dǎo)體探頭里激發(fā)電子—空穴對，在偏壓的作用下，形成相應(yīng)能量的輸出電流信號(hào)，經(jīng)過兩級(jí)放大變成窄脈沖電壓信號(hào)，信號(hào)高度（正比于X射線能量）被多道脈沖分析儀（MCA）轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號(hào)，再輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行相應(yīng)的物理分析。為了得到盡可能準(zhǔn)確的物理分析結(jié)果，X射線能譜篩選、探測器匹配以及裝置抗干擾設(shè)計(jì)就顯得尤為重要。本文介紹了HXHTA的設(shè)計(jì)及其實(shí)現(xiàn)、與EAST裝置聯(lián)機(jī)得到的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，并根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)驗(yàn)證了本設(shè)計(jì)的正確性和可靠性。

2、基于CdTe探頭的HXR診斷

　　EAST裝置等離子體放電是在縱向磁場和極向磁場與等離子體自身產(chǎn)生的極向磁場復(fù)合作用形成螺旋變化的復(fù)雜磁場位形中約束定向運(yùn)動(dòng)的電子和相應(yīng)反向運(yùn)動(dòng)的離子形成的電流，如圖1所示。

圖1 托卡馬克裝置等離子體磁場位形

　　根據(jù)準(zhǔn)線性理論計(jì)算的低雜波電流驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)效率ηcd與低雜波被等離子體吸收時(shí)的平行折射率平方N2成反,所以低雜波主要朝大環(huán)的一個(gè)切線方向發(fā)射，從而在電子速度分布的高能尾部形成速度平臺(tái)，使得ηcd最大。如果需要精確地測量快電子分布函數(shù)以及角向動(dòng)量分布，則需要切向多角度的快電子韌致輻射（FEB）診斷。雖然測量到的切向HXR是單個(gè)切線方向上的第二類曲線積分，但是由于快電子韌致輻射具有角向不均勻性，而且由于相對論效應(yīng)其輻射主要集中在低雜波入射方向，可以近似認(rèn)為是切線所在弧對應(yīng)的FEB。等離子體放電的大環(huán)主要區(qū)域是在半徑130cm 到235cm 之間。HXHTA的正向和反向探頭都為16個(gè)，把等離子體區(qū)域劃分為16個(gè)同心圓環(huán)，空間分辨率為7cm。因?yàn)榇翱谒�平尺寸有限，各方向的探頭按奇偶數(shù)分置兩層，層距3 cm，而等離子體小截面高度接近3m，經(jīng)過計(jì)算大環(huán)半徑誤差小于0.1cm，誤差對空間分辨率影響可以忽略，如圖2所示。

（射線分別表示探測器所在等離子體層中單個(gè)切向發(fā)射出的HXR 向量和，其值為第二類曲線積分）

圖2 C窗口HXHTA示意圖

　　CdTe探頭體積小，對HXR具有較高的能量沉積率，能在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)多道測量，同時(shí)在無防護(hù)的情況下探頭抗中子干擾能力也比同類探測器強(qiáng)，即使在中子輻射很強(qiáng)的情況下，由LHCD產(chǎn)生的HXR能譜也能被很好地識(shí)別出來，因此CdTe探頭作為可靠的測量手段在很多托卡馬克裝置上得到應(yīng)用。我們使用的法國Eurorad公司制造的CdTe 能譜型探頭，尺寸為5×5×3mm,有效測量范圍在20～200keV，且吸收率的線形較好，如圖3所示，圖中低能段是在探測狹縫口上加裝1mm厚的鋁膜用于截止低能射線。它對200keV的HXR 吸收率是31.6%；對57Co的122keV 的特征峰最好，分辨率可達(dá)3.8%，如圖4所示。

圖3 切向HXR探測系統(tǒng)的探測效率

圖4 探頭No.301+PR16-SFN0301FWHM=4.7keV