第一性原理研究PDP放電單元MgO保護(hù)層各種空缺對(duì)二次電子發(fā)射系數(shù)的影響

2010-01-19 李巧芬 東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院

  基于密度泛函理論的第一原理贗勢(shì)法,研究了PDP放電單元中MgO保護(hù)層在形成氧空缺后的電子結(jié)構(gòu)的變化。通過(guò)對(duì)能帶結(jié)構(gòu)和態(tài)密度分布的計(jì)算,可以看到MgO形成氧空缺后在禁帶中引入了能級(jí)。本文計(jì)算了完整MgO以及含F(xiàn)、F+ 、F2+空缺的MgO晶體,得到不同能帶結(jié)構(gòu)和態(tài)密度分布,同時(shí)計(jì)算了相應(yīng)的二次電子發(fā)射系數(shù)。結(jié)果表明空缺的形成,可有效提高二次電子發(fā)射系數(shù),其中形成F 空缺的MgO晶體的二次電子發(fā)射系數(shù)最大。

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  圖1 為目前常用的三電極結(jié)構(gòu)PDP的示意圖,它由上下玻璃基板、緊貼基板的介質(zhì)層、MgO保護(hù)層,介質(zhì)障壁及電極組成。其中MgO保護(hù)層一方面具有高的抗轟擊性,可保護(hù)介質(zhì)層不受離子轟擊;另一方面它具有較高的二次電子發(fā)射系數(shù),從而可有效降低著火電壓,提高放電效率。

三電極結(jié)構(gòu)PDP示意圖

圖1  三電極結(jié)構(gòu)PDP示意圖

  眾所周知,在PDP中提高M(jìn)gO保護(hù)層的二次電子發(fā)射系數(shù)是降低著火電壓和維持電壓,提高放電效率的一個(gè)有效途徑。研究表明,通過(guò)對(duì)保護(hù)層摻雜,形成空缺等方法,可提高保護(hù)層的二次發(fā)射系數(shù)。迄今為止,已經(jīng)有一些關(guān)于MgO 體的理論研究 。但對(duì)于MgO晶體中的空缺對(duì)二次電子發(fā)射系數(shù)的影響,僅是從較為近似理論公式出發(fā)進(jìn)行簡(jiǎn)單分析,仍需進(jìn)一步的深入研究。

  本文首先利用第一性原理分析MgO晶體中形成空缺后對(duì)MgO電子結(jié)構(gòu)的影響,計(jì)算了相應(yīng)的能帶結(jié)構(gòu)和態(tài)密度分布。在此基礎(chǔ)上利用基于Hagstrum理論的近似公式求解了存在不同空缺情況下,PDP放電單元中MgO的二次電子發(fā)射系數(shù)γ值。計(jì)算結(jié)果表明,當(dāng)MgO晶體中形成空缺后,在晶體禁帶中會(huì)形成空缺能級(jí)。由能帶理論的分析可以看到,禁帶中的空缺能級(jí)對(duì)PDP中MgO的二次電子發(fā)射具有較大影響。

1、計(jì)算模型

  本文的計(jì)算均采用美國(guó)Accelrys公司Material Studio軟件中CASTEP模塊。CASTEP模塊是基于密度泛函的量子力學(xué)程序。它利用平面波贗勢(shì)方法,交換和糾正勢(shì)能,有局域密度近似(LDA) 和廣義梯
度近似(GGA) 兩種近似,這兩種計(jì)算方法是目前計(jì)算電子結(jié)構(gòu)比較精確的方法。

  首先用局域密度近似法對(duì)MgO晶體模塊進(jìn)行幾何優(yōu)化,為了提高計(jì)算速度,對(duì)不同元素均采用超軟贗勢(shì),動(dòng)能截止能量設(shè)為500eV 以得到較為精確的結(jié)果,倒空間K點(diǎn)取值為6×6×6 ;SCF 誤差為1.0 ×10 -6 eV·atom-1 。然后,對(duì)優(yōu)化后的理論模型進(jìn)行單電子能量計(jì)算,并對(duì)電子能量計(jì)算的結(jié)果進(jìn)行能帶結(jié)構(gòu)(Band structure)、態(tài)密度(DOS)和局域態(tài)密度(PDOS)分析。

  MgO 為NaCl 型晶體,建立的晶胞含有14個(gè)Mg和13個(gè)O原子,其晶胞參數(shù)a 為4.217A。色心是指晶體中存在的能對(duì)特定波長(zhǎng)的光產(chǎn)生吸收的點(diǎn)空缺,而F 色心是俘獲了電子的負(fù)離子空位。MgO晶體缺失氧原子,形成氧空缺,其中氧空缺俘獲2個(gè)電子為F 色心,俘獲一個(gè)電子則為F+ 色心,沒(méi)有俘獲電子就是F 2 + 色心。建模時(shí),F、F+ 和F 2+ 色心是直接移去MgO 晶體體心的一個(gè)中性氧原子,分別使整個(gè)晶胞不帶電、帶正一價(jià)電荷和帶正二價(jià)電荷。色心一般可以通過(guò)熱化學(xué)還原(Thermochemical Reduction)  、高能粒子輻射等方法有效地引入MgO 晶體,通過(guò)控制形成氧空缺的實(shí)驗(yàn)條件來(lái)控制形成缺陷的濃度和種類 。

  完整的MgO 晶體模型如圖2 所示,在此基礎(chǔ)上,可建立具有各種空缺的MgO 晶體結(jié)構(gòu)模型。

MgO 晶體模型(深黑色:氧原子,淺灰色:鎂原子)

圖2  MgO 晶體模型(深黑色:氧原子,淺灰色:鎂原子)

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3、結(jié)論

  本文利用第一原理的方法來(lái)計(jì)算了完整MgO以及含F(xiàn)、F+ 、F 2+ 空缺的MgO 晶體的電子結(jié)構(gòu)的變化情況,通過(guò)對(duì)能帶結(jié)構(gòu)和態(tài)密度分布的計(jì)算,可以看到MgO 形成氧空缺后在禁帶中引入了能級(jí)。在PDP 中,二次電子發(fā)射現(xiàn)象往往是在俄歇過(guò)程中產(chǎn)生的,其中主要的過(guò)程是俄歇中和和俄歇去激。基于能帶結(jié)構(gòu)的計(jì)算結(jié)果,利用Hagstrum 理論模型,本文分別計(jì)算了存在不同空缺情況下,PDP 放電單元中,俄歇中和和俄歇去激過(guò)程MgO 的二次電子發(fā)射系數(shù)γN 、γD 。結(jié)果表明MgO 晶體中形成空缺后,改變了原有晶體的電子結(jié)構(gòu),在禁帶中形成空缺能級(jí),更容易激發(fā)二次電子。其中形成F 空缺后,二次電子發(fā)射系數(shù)提高最大,其次是F+ 和F 2+ 空缺。二次電子發(fā)射系數(shù)的提高,可有效降低PDP 的著火電壓和維持電壓,提高放電效率。